层流罩离子化 (Laminar flow hood ionization)
一些设备或系统，在垂直或水平的层流罩中，或在工作台上，提供局部的电离覆盖区。
闭锁效应 (Latch-Up)
闭锁效应提示了互补型金属氧化半导体 (CMOS) 固有的寄生双极晶体管（结）的激活过程。当激活时，造成大而且持续增加的电源电流，使这些晶体管形成一个门闩。这状态直到电源被移去后仍然有效或者装置自身损坏。此时，装置通常是非功能状态。闭锁效应典型地是在一个或较多个插脚上由过电压或过电流引起。
潜在失效 (Latent failure)
发生在正常操作时的故障。
注：失效可能属于较早的静电放电现象。潜在失效的观念是有争议的，而且不被所有的技术团体全部接受。
机器模型 (Machine model)
静电放电的模拟测试，是基于一个200微微法拉的充电电容器，和零欧姆串联电阻（名义上的）组成的放电网络。实际的串联电阻和电感数列是由测试项目通过一个短金属丝的电流波形所决定。此模拟测试近似于一个机器的静电放电。
机器模型(MM)静电放电 (Machine model (MM) electrostatic discharge)
符合标准规定指标的一个ESD现象。
主跨接线 (Main bonding jumper)
在接地电路导体和设备接地导体之间提供连接。
少量的载体浪涌 (Minority Carrier Flood)
具有反向电压成分的短暂激励叠加在VDD（连接到场效应管漏极D的电源）电源上。
机器模型ESD检测器 (MM ESD tester)
应用设备。构成机器模型对一个元件静电放电。
充电板监视器 (Monitor, charge(d) plate)
一种仪器，用来测量离子设备的电荷中和特性。